ความละเอียดเชิงสเปกตรัม ของสเปกโตรกราฟหรือโดยทั่วไปแล้วสเปกตรัมความถี่คือการวัดความสามารถในการแยกแยะคุณลักษณะในสเปกตรัมแม่เหล็กไฟฟ้าโดยปกติจะใช้สัญลักษณ์และมีความสัมพันธ์อย่างใกล้ชิดกับกำลังการแยกแยะของสเปกโตรกราฟ ซึ่งกำหนดเป็น โดย ที่คือความแตกต่างที่น้อยที่สุดของความยาวคลื่นที่สามารถแยกแยะได้ที่ความยาวคลื่นตัวอย่างเช่นสเปกโตรกราฟภาพกล้องโทรทรรศน์อวกาศ (STIS) สามารถแยกแยะคุณลักษณะที่ห่างกัน 0.17 นาโนเมตรที่ความยาวคลื่น 1000 นาโนเมตร ทำให้มีความละเอียด 0.17 นาโนเมตร และกำลังการแยกแยะประมาณ 5,900 ตัวอย่างของสเปกโตรกราฟความละเอียดสูงคือ สเปก โต รกราฟแบบเอเชลอินฟราเรดความละเอียดสูงแบบไครโอเจนิก (CRIRES+) ที่ติดตั้งอยู่ที่กล้องโทรทรรศน์ขนาดใหญ่มากของESOซึ่งมีกำลังการแยกแยะเชิงสเปกตรัมสูงถึง 100,000 ^{[ 1 ]}${\displaystyle \เดลต้า \แลมบ์ดา }$$${\displaystyle R={\frac {\lambda }{\Delta \lambda }},}$$${\displaystyle \เดลต้า \แลมบ์ดา }$${\displaystyle \lambda }$

ความละเอียดเชิงสเปกตรัมยังสามารถแสดงได้ในรูปของปริมาณทางกายภาพ เช่น ความเร็ว ซึ่งจะอธิบายถึงความแตกต่างระหว่างความเร็วที่สามารถแยกแยะได้ผ่านปรากฏการณ์ดอปเปลอร์ดังนั้น ความละเอียดคือและกำลังการแยกแยะคือ โดยที่คือความเร็วแสงตัวอย่าง STIS ข้างต้นจึงมีความละเอียดเชิงสเปกตรัมเท่ากับ 51 ${\displaystyle \Delta v}$${\displaystyle \Delta v}$$${\displaystyle R={\frac {c}{\เดลต้า วี}},}$$${\displaystyle c}$

IUPACนิยามความละเอียดในสเปกโทรสโกปีเชิงแสงว่าเป็นความแตกต่างของเลขคลื่น ความยาวคลื่น หรือความถี่ขั้นต่ำระหว่างสองเส้นในสเปกตรัมที่สามารถแยกแยะได้^{[ 2 ]}กำลังการแยกRคำนวณได้จากเลขคลื่น ความยาวคลื่น หรือความถี่ของการเปลี่ยนผ่าน หารด้วยความละเอียด^{[ 3 ]}

• ความละเอียดเชิงมุม
• ความละเอียด (แมสสเปกโทรเมตรี)

• Kim Quijano, J. และคณะ (2003), คู่มือการใช้งานเครื่องมือ STISเวอร์ชัน 7.0 (บัลติมอร์: STScI)
• Frank L. Pedrotti, SJ (2007), Introduction to optics , เวอร์ชันที่ 3, (ซานฟรานซิสโก)